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在航空航天等面临恶劣外部辐射环境的应用中,要特别考虑由空间辐射引发的单粒子翻转事件（Single-Event Upset）对数字电子系统带来的影响,必须对电子系统进行抗SEU性能的评估,以保证系统的可靠性;提出了一种新的SEU故障注入仿真平台;不同于传统的软件故障仿真方法,该平台基于FPGA来进行故障注入仿真,具有成本低、自主工作及测试快速的特点;实验显示单个SEU故障注入仅耗时46μs。