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为桥接故障候选点建立7种基于版图的物理模型，给出提取故障候选点的方法．为了更有效地利用芯片设计周期，减少测试图形数量，提出一种以确定性桥接故障测试为主体，有效结合内置多重固定测试的综合型测试方法．用90nm的两个芯片进行自动测试图形生成和验证，从生成测试图形的时间长度、测试图形的数量、桥接故障测试覆盖率3个主要方面来对比，验证了该综合型测试方法的有效性．