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分析了PAE效应(process antenna effect)的成因，并在此基础上提出了几种在深亚微米ASIC设计中消除PAE效应的方法．其方法应用于“龙芯-ICPU”的后端设计，保证了投片的一次成功．
深亚微米设计中天线效应的消除
【摘 要】
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分析了PAE效应(process antenna effect)的成因，并在此基础上提出了几种在深亚微米ASIC设计中消除PAE效应的方法．其方法应用于“龙芯-ICPU”的后端设计，保证了投片的一次成功．
【机 构】
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中国科学院微电子研究所
【出 处】
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半导体学报
【发表日期】
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2004年7期
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