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本文首先分析了时序元件的不可测因素，介绍了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明，该方法简便易行，故障覆盖率高达99％。
扫描设计中测试逻辑的研究
【摘 要】
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本文首先分析了时序元件的不可测因素，介绍了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明，该方法简便易行，故障覆盖率高达99％。
【机 构】
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北京科技大学计算机系!北京,100083,北京中庆微数字设备有限公司!北京,10O086
【出 处】
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电子测量技术
【发表日期】
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1998年3期
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