不同偏置电压下SiGeHBTEarly电压的理论研究

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:gaoq183
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Early电压VA和直流增益β是双极器件在模拟电路中应用的重要参数,本文研究了在器件不发生大注入效应和雪崩倍增效应的条件下,SiGe中基区Ge含量以及VCE对器件的Early电压VA的影响,并用数值计算的方法得到了其它参数相同情况下。
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