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提出了一种基于FPGA和EPP并口的模数转换器芯片测试电路设计。通过FPGA实现了对待测试芯片的数据读出和控制，并将数据进行相关处理，再通过EPP并口模块与计算机系统连接，实现了待测试芯片与计算机的双向通信，其通信速率达到1．2MB／s。在介绍芯片测试电路各个模块电路的基础上，详细讲述了测试芯片所集成的2种模数转换器电路、信号处理电路以及EPP并口的功能及实现原理。本设计已经应用于实际的芯片测试系统中，其性能良好，工作稳定，达到了预期的设计目标。