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在研究超快激光中,常常把半高全宽作为表征光脉冲宽度方法。半高全宽光脉冲表征体系具有原理简单,实现方便,容易掌握等优点。但是无法对不规则脉冲进行准确表征与描述。该文在分析半高全宽光脉冲表征体系不足的基础上,提出了基于统计学均方根的光脉冲表征体系。此外,该文还提出了两种光脉冲评价体系,并以模拟光脉冲为例对比了两种体系的优劣,对于超快激光的研究有重要的意义。