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该平台采用多任务并行测试与数据通信口并行交叉饱和测试等方法,解决了高速数字信号处理芯片性能测试的关键技术问题;采用FFT和时域相关算法,分别进行多通道模拟信号的幅频特性和相位特性的性能测试,解决了模拟信号多通道一致性自动快速测试的问题。通过该测试手段,可以有效地观测幅频特性、相位差、逻辑接口、LINK口及信号处理芯片的工作状态,将故障定位到芯片级。