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在放大电路设计中，由于结构或元器件的不同，即使在设计上完全一样的电路，也有可能由于元器件特性的不同造成电路性能的变化。为了保证质量及性能参数的一致性，测试环节不可或缺。
相频特性测试在TMS320F2812中的实现
【摘 要】
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在放大电路设计中，由于结构或元器件的不同，即使在设计上完全一样的电路，也有可能由于元器件特性的不同造成电路性能的变化。为了保证质量及性能参数的一致性，测试环节不可或缺。
【机 构】
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海军大连舰艇学院,韦韦电子科技（大连）有限公司
【出 处】
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世界电子元器件
【发表日期】
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2007年3期
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