论文部分内容阅读
AlGaN/GaN基高电子迁移率晶体管(HEMT)在高频、高温和大功率领域具有广泛的应用前景。然而,HEMT器件的在片评价测量将会涉及到多台测试仪表,在协调仪器间共同工作带来巨大的挑战的同时,而且由于接口的不统一,使得数据的采集和存储也极为不便,显然,手动测试已不能满足目前的需要。本文正是在改进传统测试的基础上,通过搭建基于LAN的虚拟仪器构架,介绍一种采用AgilentVEE语言来实现HEMT器件在片的自动化测试系统的方法。这套系统很好的解决了测试数据的快捷传输,实现了测试过程的自动化,加快了测试速度。