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电子产品的微型化使得传统的物理接触方法所能进行的测试访问机会越来越少，测试变得越来越复杂和困难，形成测试“瓶颈”，使故障诊断因信息量不足导致虚警率增高。而解决测试“瓶颈”的唯一途径就是加强测试性设计（DFT），即采用“并行工程”的思想，在产品的设计阶段就考虑测试性，通过添加一些特殊的电路结构，来提高原电路内部节点的可控性和可观测性，从而实现对内部电路的测试。