CMOS模拟开关的失效分析及使用可靠性

来源 :电子元器件应用 | 被引量 : 0次 | 上传用户:Alexandratj
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本文结合CMOS模拟开关的特点,介绍了这类电路的失效分析方法.同时,在总结了大量失效分析案例的基础上,讨论了其有特殊的使用可靠性问题.并对使用中应注意的问题提出了建议.
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