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对自组装生长的Ge量子点超晶格样品进行了光荧光谱(PL谱)和拉曼散射谱(Raman谱)实验测量研究.对Si的TO发光峰和Ge的发光峰特征进行了深入讨论,通过对变温PL谱的拟合及分析提出了对Ge量子点尺寸和其电子有效质量一种新的测评方法;首次在非共振Raman模式下观测到低频声子模,研究了样品的结构组份、应变及声子限制效应间的关联性.