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<正> 石英砂是电子、光学、玻璃及化学工业的重要原材料,而杂质元素的存在影响石英砂的性能和应用。曾有不少分析石英砂的方法,但均有不足之处。直接光谱法的分析灵敏度差,且存在密集的SiO分子光谱的严重干扰。以往的化学光谱法操作烦琐,存在空白值比较高的缺点。本文对外加基体、电极形状、溶样及分离方法以及干扰因素等进行了研究,