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随着电子技术在测量领域的普遍应用,在电子设备、整机电路的小型化、微型化以及计算机实时控制系统的应用过程中,干扰已成为一个越来越严重的问题。干扰有的来自内部,有的来自外部,对于不同的干扰源,应采用不同的抗扰方法。抗干扰方面的课题不但涉及到许多理论问题,在实践中也有很多问题需要解决。比如测量仪器经常出现干扰侵入微机系统的前向通道,叠加在信号上,使数据采集误差加大,而一般控制状态的输出多通过微机系统的后向通道,