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针对实时子结构试验加载方式复杂,控制精度低的问题,本文提出通过AMD装置进行加载实现数值子结构与试验子结构的界面力相容条件,降低试验造价,简化加载方式。通过力反馈进行高精度控制,提高试验的针对性和研究效率。分析与模拟的结果都表明,对于所提出的基于AMD力控制的振动台子结构试验方法具有可行性与有效性。