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通过故障树分析(FTA)方法,对密封电磁继电器长期贮存条件下的失效模式进行了科学归纳分析。对继电器贮存中出现的主要故障模式,如接触电阻超差、触点黏结等,建立清晰的故障树模型,分析确定关键故障原因及其对继电器特性影响规律,结合可测试性因素确定主要故障模式的失效表征参数,通过监测特征参数实现继电器贮存失效模式的确定及原因的诊断。最后通过加速贮存试验数据验证方法的可行性。