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利用溶胶-凝胶技术制备Eu^3＋、V共掺杂的SiO2材料，通过差热-热重分析、傅立叶红外光谱、X射线衍射、激发光谱与发射光谱等测试手段对粉末的晶型、结构、发光性质进行研究．结果表明：材料属于非晶态，800℃退火后Eu^3＋、V共掺杂的SiO2样品的结构基本稳定，只存在SiO2的网状结构；激发光谱显示，Eu-O电荷迁移带随着V掺杂量的增加而消失，产生强度较大的320nm处的7^F0→5^H3跃迁；发射光谱显示．随着V的掺人，最佳激发波长由393nm向320nm转移，同时出现了467nm，577nm，588n