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针对在贮存期内具有长寿命、高可靠性特点的系统级微波电子产品，为了快速评估其贮存寿命与可靠性指标，提出了使用步进应力加速退化试验（SSADT，Step Stress Accelerated Degradation Testig）的试验方法．首先给出SSADT的基本假设．基于该产品的故障模式影响及危害性分析和故障树分析结果，为该产品确定了加速模型．并结合线性漂移布朗运动的首达时（first passage time）分布服从逆高斯分布的特点，建立了SSADT的可靠性评估模型．其次，根据线性漂移布朗运动的独立增