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用四种微波晶体管作了典型使用条件下的加速直流电徙动试验。获得了一个较低的激活能以及典型的电徒动方程的一个较大的指数项前的常数和较小的电流密度指数。三种晶体管也在2.0千兆赫下作了工作寿命试验。5000小时的试验后,直流和射频试验之间开始呈现出相互有关。振荡器失效而放大器未失效。金引线的功率循环中没有出现引线或键合的失效损坏。温度步进应力试验表明,一个半导体器件不能在其易熔的温度之上使用。用一个计算机模型计算高管壳温度和大功率负荷下的工作温度,这时难于进行和解释实际测量。