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以研发过程的基本单元——研发活动作为分析对象,将复杂产品研发过程技术风险分解成活动内的技术风险和活动间的技术风险;通过活动的分解和活动内技术风险因素的识别,采用层次分析法计算出活动内的技术风险;从风险分析的角度,将活动间各种关系的技术风险归结为串联关系和独立关系的技术风险,建立活动间技术风险识别模型.目前该方法已运用于微电子装备的研发过程的技术风险识别中.