光纤γ辐照损耗效应及缺陷机制的研究

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本文对三种具有代表性的国产光纤的γ辐照感生损耗效应进行了研究,得出在0.85um波长感生损耗随辐射照剂量变化的规律。利用电子自旋共振(ESR)技术对辐照光纤的缺陷进行了研究,并对缺陷形成的过程和机制进行了分析和讨论。
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