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工艺技术进入微米级之后，放射性粒子引起的电路软错误率不断升高，现有加固技术通常会带来较大的面积开销。为了平衡电路面积开销和可靠性，提出了一种新的电路加固平衡指标AF，并基于二分查找替换算法，将电路中的敏感寄存器替换为三模冗余寄存器来有效容忍电路中的软错误。实验结果表明，方案可以使电路平均故障间隔时间（ MTBF）平均增加为原来的181．37％，显著地提高了电路的可靠性。在同样的实验条件下，与其他方案相比，提出的方案能获得更小AF值。