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4225-PMU超快I—VN试模块进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200SCS已有的测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流／电压测量功能，实现了业界极宽的电压、电流和上升／下降／脉冲时间动态量程，大大提高了系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力。同样重要的是，利用4225-PMU可以像进行直流测量那样，轻松实现超快的I—V源和测量操作。其很宽的可编程源与测量量程、脉宽和上升时间使得它非常适合于既需要超快电压输出又需要同步测量的应用——从纳米CMOS到闪存。