4200-SCS相关论文
吉时利仪器公司4月发布利用一套线缆即可处理I～V、C—V和脉冲I—V信号的互连解决方案。本款最新布线套件基于专利型设计，能大大加快......
吉时利仪器公司日前宣布推出新的4225-PMU超快I—V测试模块，进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS......
文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间.......
4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C—VN量功能——4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能......
吉时利仪器公司宣布对其4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件（KETI）V7．2版经过升......
日前，吉时利仪器公司宣布对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件（KE......
Model 4200-SCS PIV子系统适合解决高介电High-k介质的集成电路和65nm及更小尺寸工艺的新器件热特性的问题的工具。......
先进电气测试仪器与系统的领导者吉时利仪器公司（NYSE：KEI），日前宣布对4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。......
Keithley仪器公司目前宣布推出基于4200—SCS型半导体特性系统的吉时利测试环境交互(KTEI)v5．0软件。现在安装了KTE15．0之后，4200—SC......
吉时利仪器在4200型半导体特性分析系统中新增加了脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲I-V）子系统......
吉时利仪器为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪......
针对不断增长的测量需求提供解决方案的吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE：KEI），日前发布6．1版交互式KTEI及功能强大的KTEI（吉时利交互式测试......
吉时利仪器公司宣布推出4200-CVU，为4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200S-CS的任意......
2008年7月29日发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后......
吉时利仪器公司推出最新的4225-PMU超快I-V测试模块，进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的......
吉时利仪器公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能——4200-CU。4200-CVU能以测量模块的形式插入......
The formaldehyde(HCHO) detecting at room temperature is of great significance.Different ratios of P3HT/ZnO composite fil......
美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本．本次升级引入4200-SCS新一代脉冲测试功......
吉时利仪器公司宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块．进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS......
吉时利仪器公司日前发布测试界第一个利用一套线缆即可处理I-V、C-V和脉冲I-V信号的互连解决方案（正申请专利）。本款最新布线套件基......
（美国俄亥俄州克里夫兰，200B年7月29日讯）美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前针对4200～SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时......
随着微电子产业的发展，集成电路的集成度不断提高的同时场效应晶体管（FET）的特征尺寸也在不断缩小，由此引起的器件的稳定性和可靠性问......
