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MIS(Au—SiO2—Si)隧道发光结
MIS(Au—SiO2—Si)隧道发光结
来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jack0418
【摘 要】
:
在研究一般MIM(Al-Al2O3-Au)结的基础上,为了克服Al的不稳定性和改善结的性能,我们采用半导体材料Si代替Al,研究成功MIS隧道结,观察到了稳定的发光现象。介绍了MIS结的基本结构帮工艺流程,分析了结中SPP的各个模式
【作 者】
:
蔡益民
孙承杰
【机 构】
:
东南大学电子工程系
【出 处】
:
半导体学报
【发表日期】
:
1996年11期
【关键词】
:
MIS结
半导体材料
半导体结构
Photoelectricity
Heterojunctions
Semiconducting silicon
Light e
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在研究一般MIM(Al-Al2O3-Au)结的基础上,为了克服Al的不稳定性和改善结的性能,我们采用半导体材料Si代替Al,研究成功MIS隧道结,观察到了稳定的发光现象。介绍了MIS结的基本结构帮工艺流程,分析了结中SPP的各个模式,讨论了结的发光光谱,阐明了MIS结的发光机理。
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