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应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了粉尘中游离SiO2的含量,并同时得到粉尘样品中其它晶相和非晶相物质的含量。实验采用日本理学D/MAX2500V型X射线衍射仪,CuKα辐射带石墨单色器,管电压44kV,管电流150mA,步进扫描收集衍射数据,经Jade5.0软件定性分析,DBWS9807a软件定量分析,结果为:Rp平均等于11.29%,Rwp平均等于13.74%,Rexpected平均等于4.04%。SiO2在各样品中的含量为15.61%-37.83%;加标回收率为102.6%-119