应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了由氧化辞（ZnO）和刚玉（α-Al2O3）以不同的Al2O3质量百分比（5％～95％，以5％递增）组成的混合粉末。......

应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了粉尘中游离SiO2的含量，并同时得到粉尘样品中其它晶相和非晶相物质的含量。实验采......

应用X射线粉末衍射技术和Rietveld全谱图拟合法分析铁矿石中所含的物相及其含量。该铁矿石主要由Fe2O3,FeOOH,SiO2,Al2（Si2O5）（OH）44种......