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对一般的光路进行调制来测量微小偏转角的方法进行了改进．利用双重调制的方法，对平面偏振光的微小偏转角进行了精密的测量．这种方法利用两个磁光调制器分别对光路和信号本身进行调制，既有效增强了测量信号，又可消除由起偏器和检偏器引起的角度误差，抑制背景光对实验的影响．本实验系统的分辨率已达到2．73×10^-8rad．分析了存在的主要噪声，给出了提高整个实验系统的分辨率可能采取的措施．