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采用改进的柠檬酸盐法制备了不同In、Ta掺杂量的BaCeO3基质子导体粉体,干压成型后分别在1150℃、1250℃和1350℃下进行烧结。采用X射线衍射仪、扫描电镜分别对质子导体的物相结构和微观形貌进行了表征,并采用电化学工作站测定了样品不同温度下的电导率。结果表明,1350℃烧结样品气孔率均小于10%,并且In掺杂量越高越容易烧结。样品在CO2和H2O中的化学稳定性测试结果表明,只掺杂In可以提高样品在水中的化学稳定性,但是对粉末样品高浓度CO2气氛下的稳定性影响不大。In、Ta共掺杂可以大幅度提高样品