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为了解决复杂产品表面的准确快速检测问题，对包含多个待检目标的产品采用变步长采样机制进行检测，实现有限方位下利用不完全数据对多个待识别区域的快速检测。采用投影法确定各待检区域的旋转步长。利用改进SURF（speed—uprobustfeature）的匹配方法，将随机摆放待检产品与标准图像序列进行匹配，利用折半查找法提高寻找最优位置的速度。通过相关度计算判别各区域有无缺陷。实验结果表明在保证准确率的情况下，变步长采样检测比固定步长检测平均可节约1．04S。