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使用装有超微显微度测试仪的扫描电子显微镜,对不同取向的HgCdTe晶片施加负荷,负荷压力从2克-0.05克。由于晶体具有各向异性,在相同压力下,不同取向的HgCdTe晶片中引起的损伤有明显差异,实验得到了损伤区域的大小与昌面的关系是「111」〉「121」〉「351」。同时讨论了损伤层的结构。