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利用磁控溅射法制备了具有Pt缓冲层的[FePt]50多层膜。通过X射线衍射(XRD)分析和磁性测量研究了不同缓冲层厚度对样品微结构演变和磁性能的影响。结果表明,随着Pt缓冲层厚度(t≤8.6nm)的增加,薄膜合金的有序化温度明显降低,晶粒尺寸逐渐减小:FePt薄膜样品点阵常数c/a的比值逐渐减小,有序度参数S逐渐增大:同时样品的矫顽力也随着缓冲层厚度的增加而增大,在425℃退火的样品,其矫顽力由缓冲层厚度t=0时的398kA/m增加到t=8.6nm时的523kA/'Itl(接近无缓冲层样品在500℃退火的