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相连缺陷元识别一直是面阵探测器研究难点.面阵探测器相连缺陷元的光电信号与正常元基本相同,因此采用现有面阵测试方法无法识别相连缺陷元.提出了一种新型光学滤光片来识别面阵探测器中的相连缺陷元.在提出的滤光片结构中,有两种不同透光率、且交错排列的阵列组成.采用该滤光片后,相连缺陷元的响应电压值是正常单元响应电压的50％,面阵探测器相连缺陷元可以被显著识别.