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本文研究了掺杂对钇稳定四方ZrO<sub>2</sub>(YTZP)陶瓷材料结构和电性能的影响。通过密度测定,SEM和电性能测量分析可知:掺杂的Y-TZP材料晶粒呈不规则多边形且分布均匀,晶粒平均尺寸在0.4μm左右。掺杂材料的电导激活能均小于未掺杂YTZP材料的电导激活能;材料的晶粒电阻率随掺杂种类和浓度的变化不大,而掺杂Fe<sub>2</sub>O<sub>3</sub>和SiO<sub>2</sub>的