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本文提出了一种离散余弦变换（ＤＣＴ）电路的并发错误检测结构，并在此基础上又提出一改进结构，ＤＣＴ采用Ｂ．Ｇ．Ｌｅｅ算法蝶型结构实现，检测采用的方法是基于算法的并发错误检测容错方法，结构中由于采用两组检测机制同时检测，在不增加硬件冗余的同时，吞吐量达到１００％，且故障覆盖率提高，对所提出的结构，文中分析了系统的绑亲笔 率，并给出了结论。