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通过选用乌洛托品作为络合剂，采用电化学沉积的方法成功地制备出钴掺杂的氧化锌薄膜。通过对样品的XRD表征，得出生长的样品为ZnO纤锌矿结构，并没有其他杂相峰，即没有出现分相；通过对样品XPS的分析显示Co离子在薄膜中以＋2价的形式存在；为进一步验证Co^2＋离子进人ZnO的晶格，对掺杂不同Co^2＋浓度的样品进行PL谱的测量，从发光光谱上可以看出随着掺杂Co^2＋浓度的增加，带隙逐渐变窄，发光峰位红移，证明Co^2＋部分取代了Zn^2＋而进入了ZnO晶格中。