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利用旋涂方法在声表面波（SAW）器件的延迟通道上制备了酞菁铜（CuPC）掺杂的聚乙烯吡咯烷酮（PVP）敏感薄膜，并对制备的薄膜用四探针法和扫描电子显微镜（SEM）进行了测试和表征。结果表明：薄膜中的CuPC颗粒均匀分散在聚合物薄膜中，其粒径尺寸约为20nm，薄膜的电导率在10^-6Ω^-1·cm^-1量级。根据提出的理论模型，计算出由于敏感膜的质量变化与电导率的变化导致了中心频率的漂移，该漂移值的理论计算结果与实验验证结果相符。