【摘 要】
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用高压透射电镜研究了Ti-54wt%Ni形状记忆合金B2相的选区电子衍射花样中的漫散射条纹。动态加热观察表明漫散射条纹与B2相的晶格的不稳定性有关。倾斜样品观察表明漫散射条纹
【机 构】
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北京有色金属研究总院北京100088
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用高压透射电镜研究了Ti-54wt%Ni形状记忆合金B2相的选区电子衍射花样中的漫散射条纹。动态加热观察表明漫散射条纹与B2相的晶格的不稳定性有关。倾斜样品观察表明漫散射条纹来自穿过基本倒易阵点的倒易壁。对不同晶带轴的衍射花样中的漫散射条纹的分析表明,花样中的漫散射条纹通常有三个方向,条纹互相交叉形成网络,每根条纹都由几段组成。提出漫散射条纹是由穿过基本倒易阵点且位于{112}倒易平面上的尺度有限的倒易壁形成的。用波矢位于{112}倒易平面上的横向声学声子波对电子的散射,讨论了倒易壁的形成和分布以及花样中
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