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根据Ｘ射线荧光产生和探测的机理，用一些基本的物理参数（光电质量吸收系数、荧光产额、吸收边阶跃比、被分析的Ｘ荧光线相对于同线系的强度比等）分析计算了在同位素激发Ｘ射线荧光分析技术（ＸＲＦ）中最常见的两种激发源和＾２３８Ｐｕ源分析稀土元素含量时，在不同的测量系统和分析条件下，每个元素的相对激发探测效率以及它们的优缺点，从而确定了对不同的稀土元素，选择何种激发源、测量何种特征Ｘ线系（ＫＸ或ＬＸ），可使整