【摘 要】
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本文首次介绍一个基于电路结构分析的测试产生系统——SABATPG.该系统从局部产生测试和后效作用两个新概念出发,以FAN算法为基础,采用局部蕴涵利用已知不可测故障加速测试产
【机 构】
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中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室,中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室,中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室 北京 100080,北京 100080,北京 100080
【出 处】
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中国科学(A辑 数学 物理学 天文学 技术科学)
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本文首次介绍一个基于电路结构分析的测试产生系统——SABATPG.该系统从局部产生测试和后效作用两个新概念出发,以FAN算法为基础,采用局部蕴涵利用已知不可测故障加速测试产生和故障信号的共同敏化三项新技术.对ISCAS’8510个组合电路的测试产生结果表明,SABATPG与基于FAN算法的测试产生系统相比,测试产生效率提高近20％.
This paper introduces for the first time a test generation system based on circuit structure analysis, SabApG.The system starts from two new concepts of local generation test and aftereffect, based on FAN algorithm, using local implication to accelerate the test with known unmeasurable fault And fault signal common sensitization.The three test results of ISCAS’8510 combinational circuits show that the test generation efficiency of SABATPG is improved by nearly 20% compared with the test generation system based on FAN algorithm.
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