论文部分内容阅读
考虑到铝材料的应用在微电子等众多领域中的重要地位以及由于这类材料质地的柔软性而引起的制样困难，为了在几十纳为线度的水平上观察分析铝材料内部微结构状况及其变化规律，在分析、比较了目前常用的凡种铝材料内部微结构观察分析的制样技术的基础上，介绍一种利用聚焦离子束技术（Ｆｏｃｕｓｅｄ ｉｏｎ ｂｅａｍ，ＦＩＢ）来对铝引线进行制样与观察分析的方法，并得出了一些初步结果。