基于MURA编码孔成像测量Pu部件对称性的数值模拟分析

来源 :核技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:star2006111
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
通过分析MURA编码孔成像技术的原理,实现了MLEM重建算法的源物体图像重建.使用数值模拟方法,分析了413 keV单能γ面源的MURA编码板成像全过程,通过对比分析重建源物体分布与实际源物体分布,验证了重建算法及程序的正确性.并通过MNCP程序模拟假想的Pu部件模型,在编码孔成像过程中,像平面上射线投影强度分布、直接重建及简单扣本底重建源物体分布,从而论证了MURA编码孔成像测量Pu部件对称性的可行性.数值模拟结果表明,编码孔成像测量Pu部件对称性与小孔成像相比,在保护敏感信息和提高射线利用效率方面,具备一定的优势.
其他文献
期刊
在全国288个地级市级别以上的城市中,具有狭长带状形态的城市共116个,比重40.3%.带型城市作为我国常见的城市空间形态,具有自身典型的特征以及规划发展需求,目前学界对于带型
期刊
采用多粒子程序(PIC程序),对周期性聚焦磁场中满足K-V分布的离子束进行数值模拟研究.在以匹配半径外特定区域内的离子数为控制信息的对数函数控制器的控制下,离子束的径向密
期刊
对比研究了国内外五种不同型号的PMOSFETs,在不同剂量率、不同偏置条件下的辐照响应特性;并对高剂量率辐照后的器件进行了与低剂量率辐照等时的室温退火。结果表明,随着辐照
期刊
随着器件特征尺寸的减小,单粒子效应成为影响CMOS工艺空间辐射环境可靠性的关键因素之一。未来航天和国防系统需要了解新型工艺中的单粒子效应损伤机制及其加固方法,包括在器
期刊
期刊
期刊