6H—SiC表面热氧化SiO2的正电子谱研究

来源 :四川大学学报(自然科学版) | 被引量 : 0次 | 上传用户:sdausunyu
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本文将慢正电子湮灭多普勒展宽谱技术,应用于对SiC表面热氧化生长的SiO2特性的研究.S参数和W参数在退火前后的变化,直观的反映出SiO2/SiC表面氧化层中空位型缺陷浓度的改变.通过与SiO2/Si样品的对比,证实C元素及其诱生空位型缺陷的存在,很可能是影响SiO2/SiC氧化层质量和SiCMOS击穿特性的重要因素,后退火工艺可以提高SiO2/SiC中氧化层的致密性.实验表明,慢正电子湮灭多普勒展宽谱是研究热氧化SiO2特性的有效手段.
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