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采用最大局域化Wannier函数方法,研究了六方AlN(0001)面的电子结构及其极化性质。发现由于表面电荷重新分布及离子移动,表面的极化显著大于体相结构中的极化值。逐层分析表面结构极化性质的变化,发现极化迅速衰减,经过大约10 Å厚度,达到体相结构中的极化值。研究结果对于理解基于AlN的表面吸附以及薄膜科技应用有着指导意义。