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本文针对SOC测试数据压缩，提出了一种新的可挑选变长输入编码（SVIC）方案。先采用一启发式的贪婪算法，得到带有无关位测试集TD的差分矢量序列Tdiff后，再用该SVIC编码对其进行压缩，以缩短测试时间，降低测试数据带宽的要求。文中同时给出了相应SVIC解码器的设计。实验结果表明，在硬件开销接近时，SVIC的压缩比可比SC编码平均高出约17．46％；而与VIHC编码相比，虽然其压缩比略有下降，但SVIC解码器所要求的面积开销却可显著降低。