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近年来,太阳能光伏应用发展迅速,截止2016年底,全球光伏装机量高达77.42GW,在能源结构中所占的比例逐渐上升.然而,在快速发展的同时,太阳能电池的可靠性存在着较大的隐患,主要表现为两种形式,一种是非太阳能电池片部分的老化,如封装材料、互连材料、玻璃盖板等材料的老化或损坏;另一种是太阳能电池片部分的老化,如p-n结内的漏电现象、表面与界面处的缺陷增多等.本文就晶体硅太阳能电池片老化特性进行了分析和探讨.