论文部分内容阅读
采用射频溅射法制备了Zn0. 96Mn0．04O薄膜样品，并对样品进行了结构和性能的检测，其中使用的靶材是通过标准固态反应法制备的．经过X射线衍射分析，样品均未被发现任何杂质相，都表现为纤锌矿结构．磁性测量表明，薄膜样品在室温下表现出较强的铁磁性，每个Mn离子的饱和磁化强度为1．05μB，矫顽力为0．01T，居里温度高于400K．分析表明，薄膜样品所检测到的铁磁性不是杂质相的贡献，而是MnZnO的内禀性质，并且生长环境及．缺陷对样品的铁磁性产生了很大的影响．