MOS电容法测硅的产生寿命和表面产生速度

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本文指出在表面产生速度可以看作常数的情况下,用线性电压扫描MOS电容测硅的产生寿命和表面产生速度。测线性扫描饱和电容随扫描速度的变化,可以较方便地求出产生寿命和表面产生速度。对一些MOS电容样品进行了测试。结果表明,测试方法在一定条件下是可行的。 This paper points out that in the case of the surface can be seen as a constant rate of production, the use of linear voltage scanning MOS capacitor silicon production life and surface speed. Measuring linear sweep saturation capacitance with the scanning speed changes, you can more easily find the production of life and surface speed. Some MOS capacitor samples were tested. The results show that the test method is feasible under certain conditions.
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