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利用X射线光电子能谱（XPS）分析技术，研究了苹果表皮残留的氧乐果和敌敌畏中的特征元素P，解析并对比原药及残留农药中P的化学结构。结果显示，氧乐果中P部分转化为结合能为133．37eV的O，O，S-三甲基磷酸酯；敌敌畏中P仍以O，O-二甲基-O-（2，2-二氯乙烯基）磷酸酯为主。表明XPS可实现对苹果表皮2种残留农药的结构检测，方法简单、可靠性高。